Dampfalterungsprüfkammer
Geeignet für elektronische Steckverbinder, Halbleiter-ICs, Transistoren, Dioden, Flüssigkristall-LCDs,
Chip-Widerstand Kapazität, Komponentenindustrie elektronische Komponenten Metallstift Löttest
Beschleunigter Lebensdauertest vor Alterung; Halbleiter, passive Komponenten, Oxidation von Teilstiften
Experiment. Mikrocomputer-Temperaturregler, LED-Digitalanzeige, PID+SSR-Steuerung, Platin
Widerstandstemperatursensor (PT-100), Auflösung 0,1℃, vollautomatische Sicherheitsschutzeinrichtung.
Technologieparameter
Innenkartongröße (B x H x T) mm | 500x400x200 |
Außenkartongröße (B x H x T) mm | 600x500x420 |
| Genauigkeit des Temperaturmessgeräts | ±0,5 |
| Dampftemperatur (℃) | Bis zu 97℃ |
Controller | PID-Mikrocomputer-Temperaturregelung, Heizmodus PID+SCR. |
Aufheizzeit | ca. 45 Minuten Regelgenauigkeit ±0,5℃ |
| Timer | 9999 Punkte. |
Stromspannung | 220 V Leistung 2 kW. |
Besonderheit
Details
Anwendung
