Dampfalterungsprüfkammer

Geeignet für elektronische Steckverbinder, Halbleiter-ICs, Transistoren, Dioden, Flüssigkristall-LCDs,
Chip-Widerstand Kapazität, Komponentenindustrie elektronische Komponenten Metallstift Löttest
Beschleunigter Lebensdauertest vor Alterung; Halbleiter, passive Komponenten, Oxidation von Teilstiften
Experiment. Mikrocomputer-Temperaturregler, LED-Digitalanzeige, PID+SSR-Steuerung, Platin
Widerstandstemperatursensor (PT-100), Auflösung 0,1℃, vollautomatische Sicherheitsschutzeinrichtung.

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